Toggle navigation
Aktualności
Wydarzenia
Wydział
Badania i nauka
Kandydaci
Studenci
Absolwenci
Pracownicy
Kontakt
Szukaj
EN
Search text:
Search text:
Wydział Inżynierii
Materiałowej
Politechnika Warszawska
Badania i nauka
Aparatura badawcza
Charakterystyka materiałów
Charakterystyka właściwości
Druk 3D
Modelowanie komputerowe
Preparatyka próbek
Wytwarzanie materiałów i obróbka
Pozostałe
Obszary badawcze
Grupy badawcze
Oferta badawcza
Laboratorium Badań dla Przemysłu
Laboratorium Mikroskopii Elektronowej
Projekty
Spin-off
Ogłoszenia
Dział Obsługi Projektów
Strona główna
»
Badania i nauka
»
Aparatura badawcza
»
Charakterystyka materiałów
Charakterystyka struktury
Dyfraktometr rentgenowski Bruker D8 Advance
Dyfraktometr rentgenowski Bruker D8 Discover
Dyfraktometr rentgenowski Rigaku MiniFlex II
Fluorescencyjny spektrometr rentgenowski Olympus Delta Professional
FTIR Nicolet8700 (ThermoScientific)
Charakterystyka proszków
Analizator wielkości i rozkładu wielkości cząstek
Laserowy analizator wielkości cząstek proszku Kamika Instruments Mini 3D
Piknometr helowy Ultrapycnometer 1000, Quantachrome Instruments
Porozymetr rtęciowy AutoPore IV, Micromeritics
Mikroskopy świetlne
Cyfrowy mikroskop świetlny Keyence VHX-7000
Metalograficzny mikroskop laboratoryjny Eclipse MA200, NIKON
Metalograficzny mikroskop świetlny Nikon LV150
Mikroskop cyfrowy Keyence VHX970FN
Mikroskop cyfrowy TAGARNO MAGNUS PRESTIGE
Mikroskopy elektronowe
Dwuwiązkowy mikroskop jonowy Hitachi NB5000
Mikroskop jonowy Hitachi FB-2100
Skaningowy Mikroskop Elektronowy Hitachi TM3000
Skaningowy transmisyjny mikroskop elektronowy Hitachi 5500
Skaningowy transmisyjny mikroskop elektronowy Hitachi SU70
