Skaningowy transmisyjny mikroskop elektronowy Hitachi SU70

Dane techniczne
  • Maksymalne napięcie przyspieszające: 30 kV
  • Powiększenie: do 200.000x
  • Działo FEG – Schottky
  • Mody
  • Secondary electrons detector (SE 2x)
  • Back scatter electrons detector (BSE)
  • Detector of transmitted electrons (STEM)
  • Energy dispersive spectrometer (EDS)
  • Wavelength dispersive spectroscopy (WDS)
  • Electron backscattered diffraction (EBSD)
Osoba do kontaktu dr inż. Tomasz Płociński
Zakład Zakład Projektowania Materiałów
Lokalizacja na Wydziale ul. Narbutta 85 p. 12