Toggle navigation
Aktualności
Wydarzenia
Wydział
Badania i nauka
Kandydaci
Studenci
Absolwenci
Pracownicy
Kontakt
Szukaj
EN
Search text:
Search text:
Wydział Inżynierii
Materiałowej
Politechnika Warszawska
Badania i nauka
Aparatura badawcza
Charakterystyka materiałów
Charakterystyka właściwości
Druk 3D
Modelowanie komputerowe
Preparatyka próbek
Wytwarzanie materiałów i obróbka
Pozostałe
Obszary badawcze
Grupy badawcze
Oferta badawcza
Laboratorium Badań dla Przemysłu
Laboratorium Mikroskopii Elektronowej
Projekty
Spin-off
Ogłoszenia
Dział Obsługi Projektów
Strona główna
»
Badania i nauka
»
Aparatura badawcza
»
Charakterystyka materiałów
»
Charakterystyka struktury
Dyfraktometr rentgenowski Bruker D8 Advance
Dyfraktometr rentgenowski Bruker D8 Discover
Dyfraktometr rentgenowski Rigaku MiniFlex II
Fluorescencyjny spektrometr rentgenowski Olympus Delta Professional
FTIR Nicolet8700 (ThermoScientific)
GPC (Agilent serii 1200)
Mikrotomograf rentgenowski SkyScan 1172 (Bruker)
Mikrotomograf rentgenowski Xradia XCT-400 (Zeiss)
Przenośny spektrometr rentgenowski Delta firmy Olympus
Skaner 3D (Atose Core EDU)
Spektrometr FT-IR Nicolet 6700
Spektrometr Ramana JASCO NRS-5100
Spektrometr Ramana – Renishaw in via
Spektrometr S4 Explorer Bruker