Skaningowy transmisyjny mikroskop elektronowy Hitachi 5500

Dane techniczne
  • Maksymalne napięcie przyspieszające: 30 kV
  • Powiększenie: do 2 000 000 x
  • Rozdzielczość: 0.4 nm w trybie skaningowym przy napięciu przyspieszającym 30 kV i poniżej 2 nm przy 1 kV, 0.5 nm w trybie STEM 30 kV
  • Działo FEG – Cold Field emission gun
  • Secondary electrons detector (SE)
  • Back scatter electrons detector (BSE)
  • Detector of transmitted electrons (STEM)
  • Energy dispersive spectrometer (EDS)
Osoba do kontaktu dr inż. Tomasz Płociński
Zakład Zakład Projektowania Materiałów
Lokalizacja na Wydziale Gmach Nowy Technologiczny, ul. Narbutta 85, p. 12