Strona główna » Badania i nauka » Aparatura badawcza » Charakterystyka materiałów » Charakterystyka struktury »
Mikrotomograf rentgenowski Xradia XCT-400 (Zeiss)
| Dane techniczne | Rozdzielczość - 0.7um, Parametry źródła (150kV, 66uA) |
| Wyposażenie | Przystawka MTS (ściskanie/rozciąganie, Fmax=5kN) |
| Osoba do kontaktu | dr inż. Jakub Jaroszewicz, dr hab. inż. Łukasz Ciupiński, prof. uczelni |
| Zakład | Zakład Projektowania Materiałów |
| Laboratorium | Laboratorium Mikrotomografii Komputerowej |
| Lokalizacja na Wydziale | ul. Wołoska 141, p. 013A |