• Aktualności
  • Wydarzenia
  • Wydział
  • Badania i nauka
  • Kandydaci
  • Studenci
  • Absolwenci
  • Pracownicy
  • Kontakt
  • Szukaj
EN

Politechnika
Warszawska

Wydział
Inżynierii Materiałowej

Badania i nauka

  • Aparatura badawcza
    • Charakterystyka materiałów
    • Charakterystyka właściwości
    • Druk 3D
    • Modelowanie komputerowe
    • Preparatyka próbek
    • Wytwarzanie materiałów i obróbka
    • Pozostałe
  • Obszary badawcze
  • Grupy badawcze
  • Oferta badawcza
  • Laboratorium Badań dla Przemysłu
  • Laboratorium Mikroskopii Elektronowej
  • Projekty
  • Spin-off
  • Ogłoszenia
  • Dział Obsługi Projektów

Strona główna » Badania i nauka » Aparatura badawcza »

Charakterystyka materiałów

 

Charakterystyka struktury

  • Dyfraktometr rentgenowski Bruker D8 Advance
  • Dyfraktometr rentgenowski Bruker D8 Discover
  • Dyfraktometr rentgenowski Rigaku MiniFlex II
  • Fluorescencyjny spektrometr rentgenowski Olympus Delta Professional
  • FTIR Nicolet8700 (ThermoScientific)

 

Charakterystyka proszków

  • Analizator wielkości i rozkładu wielkości cząstek
  • Laserowy analizator wielkości cząstek proszku Kamika Instruments Mini 3D
  • Piknometr helowy Ultrapycnometer 1000, Quantachrome Instruments
  • Porozymetr rtęciowy AutoPore IV, Micromeritics

 

Mikroskopy świetlne

  • Cyfrowy mikroskop świetlny Keyence VHX-7000
  • Metalograficzny mikroskop laboratoryjny Eclipse MA200, NIKON
  • Metalograficzny mikroskop świetlny Nikon LV150
  • Mikroskop cyfrowy Keyence VHX970FN
  • Mikroskop cyfrowy TAGARNO MAGNUS PRESTIGE

  

Mikroskopy elektronowe

  • Dwuwiązkowy mikroskop jonowy Hitachi NB5000
  • Mikroskop jonowy Hitachi FB-2100
  • Skaningowy Mikroskop Elektronowy Hitachi TM3000
  • Skaningowy transmisyjny mikroskop elektronowy Hitachi 5500
  • Skaningowy transmisyjny mikroskop elektronowy Hitachi SU70

  

Kanały RSS

PW na Facebook

PW na Facebook

© 1998-2025
Wydział Inżynierii Materiałowej,
ul. Wołoska 141,
02-507 Warszawa

Deklaracja
Dostępności