• Aktualności
  • Wydarzenia
  • Wydział
  • Badania i nauka
  • Kandydaci
  • Studenci
  • Absolwenci
  • Pracownicy
  • Kontakt
  • Szukaj
EN

Politechnika
Warszawska

Wydział
Inżynierii Materiałowej

Badania i nauka

  • Aparatura badawcza
    • Charakterystyka materiałów
    • Charakterystyka właściwości
    • Druk 3D
    • Modelowanie komputerowe
    • Preparatyka próbek
    • Wytwarzanie materiałów i obróbka
    • Pozostałe
  • Obszary badawcze
  • Grupy badawcze
  • Oferta badawcza
  • Laboratorium Badań dla Przemysłu
  • Laboratorium Mikroskopii Elektronowej
  • Projekty
  • Spin-off
  • Ogłoszenia
  • Dział Obsługi Projektów

Strona główna » Badania i nauka » Aparatura badawcza » Charakterystyka materiałów »

Mikroskopy świetlne

Mikroskopy świetlne

  • Cyfrowy mikroskop świetlny Keyence VHX-7000
  • Metalograficzny mikroskop laboratoryjny Eclipse MA200, NIKON
  • Metalograficzny mikroskop świetlny Nikon LV150
  • Mikroskop cyfrowy Keyence VHX970FN
  • Mikroskop cyfrowy TAGARNO MAGNUS PRESTIGE
  • Mikroskop stereoskopowy Olympus SZx10 z możliwością archiwizacji obrazu
  • Mikroskop świetlny Nikon Eclipse LV150N
  • Mikroskop świetlny NIKON Eclipse MA200
  • Mikroskop świetlny Nikon Epiphot 200
  • Mikroskop świetlny ze stolikiem grzewczym
  • Mikroskop świetlny Zeiss Axio Observer
  • Mikroskop świetlny ZEISS Axio.Scope1
  • Przenośne mikroskopy świetlne Keyence VHX-100K I VHX-600 oraz Nikon
  • Stereoskopowy mikroskop świetlny Nikon SMZ 745T
  • Świetlny mikroskop prześwietleniowy PZO Biolar
  • ZEISS SteREO Discovery.V8

Kanały RSS

PW na Facebook

PW na Facebook

© 1998-2025
Wydział Inżynierii Materiałowej,
ul. Wołoska 141,
02-507 Warszawa

Deklaracja
Dostępności