• Aktualności
  • Wydarzenia
  • Wydział
  • Badania i nauka
  • Kandydaci
  • Studenci
  • Absolwenci
  • Pracownicy
  • Kontakt
  • Szukaj
EN

Politechnika
Warszawska

Wydział
Inżynierii Materiałowej

Badania i nauka

  • Aparatura badawcza
    • Charakterystyka materiałów
    • Charakterystyka właściwości
    • Druk 3D
    • Modelowanie komputerowe
    • Preparatyka próbek
    • Wytwarzanie materiałów i obróbka
    • Pozostałe
  • Obszary badawcze
  • Grupy badawcze
  • Oferta badawcza
  • Laboratorium Badań dla Przemysłu
  • Laboratorium Mikroskopii Elektronowej
  • Projekty
  • Spin-off
  • Ogłoszenia
  • Dział Obsługi Projektów

Strona główna » Badania i nauka » Aparatura badawcza » Charakterystyka materiałów »

Charakterystyka struktury

Dyfraktometr rentgenowski Bruker D8 Advance

Dyfraktometr rentgenowski Bruker D8 Discover

Dyfraktometr rentgenowski Rigaku MiniFlex II

Fluorescencyjny spektrometr rentgenowski Olympus Delta Professional

FTIR Nicolet8700 (ThermoScientific)

GPC (Agilent serii 1200)

Mikrotomograf rentgenowski SkyScan 1172 (Bruker)

Mikrotomograf rentgenowski Xradia XCT-400 (Zeiss)

Przenośny spektrometr rentgenowski Delta firmy Olympus

Skaner 3D (Atose Core EDU)

Spektrometr FT-IR Nicolet 6700

Spektrometr Ramana JASCO NRS-5100

Spektrometr Ramana – Renishaw in via

Spektrometr S4 Explorer Bruker

Kanały RSS

PW na Facebook

PW na Facebook

© 1998-2025
Wydział Inżynierii Materiałowej,
ul. Wołoska 141,
02-507 Warszawa

Deklaracja
Dostępności