• Aktualności
  • Wydarzenia
  • Wydział
  • Badania i nauka
  • Kandydaci
  • Studenci
  • Absolwenci
  • Pracownicy
  • Kontakt
  • Szukaj
EN

Politechnika
Warszawska

Wydział
Inżynierii Materiałowej

Badania i nauka

  • Aparatura badawcza
    • Charakterystyka materiałów
    • Charakterystyka właściwości
    • Druk 3D
    • Modelowanie komputerowe
    • Preparatyka próbek
    • Wytwarzanie materiałów i obróbka
    • Pozostałe
  • Obszary badawcze
  • Grupy badawcze
  • Oferta badawcza
  • Laboratorium Badań dla Przemysłu
  • Laboratorium Mikroskopii Elektronowej
  • Projekty
  • Spin-off
  • Ogłoszenia
  • Dział Obsługi Projektów

Strona główna » Badania i nauka » Aparatura badawcza » Charakterystyka materiałów »

Mikroskopy elektronowe

Dwuwiązkowy mikroskop jonowy Hitachi NB5000

Mikroskop jonowy Hitachi FB-2100

Skaningowy Mikroskop Elektronowy Hitachi TM3000

Skaningowy transmisyjny mikroskop elektronowy Hitachi 5500

Skaningowy transmisyjny mikroskop elektronowy Hitachi SU70

Skaningowy transmisyjny mikroskop elektronowy Hitachi SU8000

Transmisyjny mikroksop elektronowy (STEM) JEOL JEM 1200 EX

Wysokorozdzielczy Skaningowy Elektronowy Mikroskop Transmisyjny Hitachi HD2700

Wysokorozdzielczy Skaningowy Transmisyjny Mikroskop Elektronowy (S)TEM Spectra 200

Kanały RSS

PW na Facebook

PW na Facebook

© 1998-2025
Wydział Inżynierii Materiałowej,
ul. Wołoska 141,
02-507 Warszawa

Deklaracja
Dostępności