Toggle navigation
Aktualności
Wydarzenia
Wydział
Badania i nauka
Kandydaci
Studenci
Absolwenci
Pracownicy
Kontakt
Szukaj
EN
Search text:
Search text:
Wydział Inżynierii
Materiałowej
Politechnika Warszawska
Badania i nauka
Aparatura badawcza
Charakterystyka materiałów
Charakterystyka właściwości
Druk 3D
Modelowanie komputerowe
Preparatyka próbek
Wytwarzanie materiałów i obróbka
Pozostałe
Obszary badawcze
Grupy badawcze
Oferta badawcza
Laboratorium Badań dla Przemysłu
Laboratorium Mikroskopii Elektronowej
Projekty
Spin-off
Ogłoszenia
Dział Obsługi Projektów
Strona główna
»
Badania i nauka
»
Aparatura badawcza
»
Charakterystyka właściwości
»
Badania powierzchni
Chropowatościomierz Mitutoyo SJ-210
Goniometr DataPhysics OCA 25
Goniometr Rame-Hart model 90 Pro Edition
Mikroskop sił atomowych Bruker MultiMode Nanoscope 8
Mikroskop Sił Atomowych Oxfords Instruments’s Asylum Research AFM MFP3D Bio
Profilometr optyczny Wyko NT9300 firmy Veeco
Tester przenikalności gazów VAC-V1
Urządzenie do badania przyczepności metodą scratch-test CSM Revetest Scratch Tester