Strona główna » Badania i nauka » Aparatura badawcza » Charakterystyka właściwości » Badania powierzchni »
Mikroskop sił atomowych Bruker MultiMode Nanoscope 8
Dane techniczne |
|
Wyposażenie |
Opracowane zostały elementy umożliwiające modyfikację sond za pomocą FIB. Modyfikacja (ostrzenie) pozwala na uzyskanie ponad 10x wyższej rozdzielczości oraz umożliwia obrazowanie kontrastu fazowego w wysokich częstotliwościach. Możliwe jest także uzyskanie dowolnego kształtu (np. walca, prostopadłościanu, itp.). Opracowane zostały elementy układu umożliwiającego badanie materiałów w prostopadłym polu magnetycznym o regulowanym kierunku i natężeniu. |
Osoba do kontaktu | dr inż. Janusz Rębiś |
Zakład | Zakład Projektowania Materiałów |
Lokalizacja na Wydziale | ul. Wołoska 141, p. 016 |