Toggle navigation
Aktualności
Wydarzenia
Wydział
Badania i nauka
Kandydaci
Studenci
Absolwenci
Pracownicy
Kontakt
Szukaj
EN
Search text:
Search text:
Wydział Inżynierii
Materiałowej
Politechnika Warszawska
Badania i nauka
Aparatura badawcza
Charakterystyka materiałów
Charakterystyka właściwości
Druk 3D
Modelowanie komputerowe
Preparatyka próbek
Wytwarzanie materiałów i obróbka
Pozostałe
Obszary badawcze
Grupy badawcze
Oferta badawcza
Laboratorium Badań dla Przemysłu
Laboratorium Mikroskopii Elektronowej
Projekty
Spin-off
Ogłoszenia
Dział Obsługi Projektów
Strona główna
»
Badania i nauka
»
Aparatura badawcza
»
Charakterystyka właściwości
»
Badania nieniszczące
Defektoskopy prądowirowe: Olympus Nortec 600, Omniscan MX ECA i MultiScan MS 5800
Defektoskopy ultradźwiękowe: Omniscan MX, Omniscan MX2 oraz Olympus Focus LT z systemem Phased Array
Defektoskopy ultradźwiękowe: Omniscan MX, Omniscan MX2 oraz Olympus Focus LT z systemem Phased Array
Grubościomierz ultradźwiękowy 38DL PLUS z zobrazowaniem typu A
Konwencjonalny defektoskop ultradźwiękowy Epoch 4 firmy Olympus
System defektoskopii dalekozasięgowej Olympus Ultrawave LRT
Wielokanałowy (191 kanałów pomiarowych) system Emisji Akustycznej AMSY-5 i AMSY-6 firmy Vallen Systeme GmbH
Wielokanałowy system Emisji Akustycznej AMSY-5 i AMSY-6 firmy Vallen Systeme GmbH