• Aktualności
  • Wydarzenia
  • Wydział
  • Badania i nauka
  • Kandydaci
  • Studenci
  • Absolwenci
  • Pracownicy
  • Kontakt
  • Szukaj
EN

Politechnika
Warszawska

Wydział
Inżynierii Materiałowej

Badania i nauka

  • Aparatura badawcza
    • Charakterystyka materiałów
    • Charakterystyka właściwości
    • Druk 3D
    • Modelowanie komputerowe
    • Preparatyka próbek
    • Wytwarzanie materiałów i obróbka
    • Pozostałe
  • Obszary badawcze
  • Grupy badawcze
  • Oferta badawcza
  • Laboratorium Badań dla Przemysłu
  • Laboratorium Mikroskopii Elektronowej
  • Projekty
  • Spin-off
  • Ogłoszenia
  • Dział Obsługi Projektów

Strona główna » Badania i nauka » Aparatura badawcza » Charakterystyka właściwości »

Badania nieniszczące

Defektoskopy prądowirowe: Olympus Nortec 600, Omniscan MX ECA i MultiScan MS 5800

Defektoskopy ultradźwiękowe: Omniscan MX, Omniscan MX2 oraz Olympus Focus LT z systemem Phased Array

Defektoskopy ultradźwiękowe: Omniscan MX, Omniscan MX2 oraz Olympus Focus LT z systemem Phased Array

Grubościomierz ultradźwiękowy 38DL PLUS z zobrazowaniem typu A

Konwencjonalny defektoskop ultradźwiękowy Epoch 4 firmy Olympus

System defektoskopii dalekozasięgowej Olympus Ultrawave LRT

Wielokanałowy (191 kanałów pomiarowych) system Emisji Akustycznej AMSY-5 i AMSY-6 firmy Vallen Systeme GmbH

Wielokanałowy system Emisji Akustycznej AMSY-5 i AMSY-6 firmy Vallen Systeme GmbH

Kanały RSS

PW na Facebook

PW na Facebook

© 1998-2025
Wydział Inżynierii Materiałowej,
ul. Wołoska 141,
02-507 Warszawa

Deklaracja
Dostępności