Toggle navigation
Aktualności
Wydarzenia
Wydział
Badania i nauka
Kandydaci
Studenci
Absolwenci
Pracownicy
Kontakt
Szukaj
EN
Search text:
Search text:
Wydział Inżynierii
Materiałowej
Politechnika Warszawska
Badania i nauka
Aparatura badawcza
Charakterystyka materiałów
Charakterystyka właściwości
Druk 3D
Modelowanie komputerowe
Preparatyka próbek
Wytwarzanie materiałów i obróbka
Pozostałe
Obszary badawcze
Grupy badawcze
Oferta badawcza
Laboratorium Badań dla Przemysłu
Laboratorium Mikroskopii Elektronowej
Projekty
Spin-off
Ogłoszenia
Dział Obsługi Projektów
Strona główna
»
Badania i nauka
»
Aparatura badawcza
»
Charakterystyka właściwości
»
Badania elektryczne
Aparatura SeebScan do charakteryzacji powierzchniowego rozkładu współczynnika Seebecka
Aparatura SeebTest do charakteryzacji właściwości termoelektrycznych w funkcji temperatury
Keithley Model 2450 SourceMeter® SMU Instrument
Keithley Model DMM6500 Digital Multimeter
Zestaw pomiarowy Keithley 2182A/6221