Wysokorozdzielczy Skaningowy Elektronowy Mikroskop Transmisyjny Hitachi HD2700

Dane techniczne
  • Maksymalne napięcie przyspieszające : 200 kV
  • Powiększenie: x 8 000 000
  • Działo FEG – Schottky
  • Bright field STEM: Phase contrast image (TE image)
  • Dark field STEM: Z-contrast image (ZC image)
  • Secondary electron image (SE image)
  • Electron diffraction*
  • Characteristic X-ray analysis and mapping (EDX)
Osoba do kontaktu dr inż. Tomasz Płociński
Zakład Zakład Projektowania Materiałów
Lokalizacja na Wydziale Gmach Nowy Technologiczny, ul. Narbutta 85, p. 10