Oferta badawcza

  • Skaningowa Mikroskopia Elektronowa (SEM)
    • obserwacje topografii powierzchni
    • obserwacje mikrostruktury - kontrast orientacyjny – obrazujący kształt i wielkość ziaren
    • obrazowanie w kontraście masowym materiałów wielofazowych
    • tomografia – rekonstrukcja 3D
       
  • Transmisyjna Mikroskopia Elektronowa (TEM,STEM)
    • obserwacje struktury atomowej
    • obserwacje elementów mikrostruktury materiału takich jak granice ziaren, dyslokacje, wydzielenia
    • badania in-situ rozciąganie, grzanie
    • tomografia – rekonstrukcja 3D
       
  • Mikroanaliza Rentgenowska EDX
    • jakościowa analiza składu chemicznego
    • ilościowa analiza składu chemicznego
    • próg detekcji >0.3 % wag. dla pierwiastków ciężkich i ok. 2% dla lekkich
    • dokładność pomiaru ok. 3-5%
       
  • Analiza Orientacji Krystalograficznej
    • dyfrakcja elektronów wstecznie rozproszonych EBSD
    • dyfrakcja elektronów rozproszonych (t-EBSD, TKD, t-FSD) w SEM
    • dyfrakcja w zbieżnej wiązce w STEM, SAED w TEM.