Mikroskopia elektronowa

Mikroskopia elektronowa jest jedną z głównych technik badawczych wykorzystywanych w Inżynierii Materiałowej do analizy struktury i właściwości materiałów. Nasz Wydział posiada jedno z najlepiej wyposażonych laboratoriów, które jest wyposażone w wiele różnych mikroskopów elektronowych oraz jonowych, które umożliwiają analizę struktury materiałów aż do skali atomowej.

W Laboratorium znajdują się również urządzenia pomocnicze konieczne do przygotowania preparatów do obserwacji. Dzięki ponad 40 letniej historii mikroskopii elektronowej na WIM PW oraz współpracy z wieloma ośrodkami badawczymi, pracownicy Laboratorium posiadają odpowiednią wiedzę i doświadczenie w analizie struktury różnego typu materiałów.

Oferta badawcza

  • Skaningowa Mikroskopia Elektronowa (SEM)
    • obserwacje topografii powierzchni
    • obserwacje mikrostruktury - kontrast orientacyjny – obrazujący kształt i wielkość ziaren
    • obrazowanie w kontraście masowym materiałów wielofazowych
    • tomografia – rekonstrukcja 3D
  • Transmisyjna Mikroskopia Elektronowa (TEM,STEM)
    • obserwacje struktury atomowej: powiększenia do 8 000 000 razy
    • obserwacje elementów mikrostruktury materiału takich jak granice ziaren, dyslokacje, wydzielenia
    • badania in-situ rozciąganie, grzanie
    • tomografia – rekonstrukcja 3D
  • Mikroanaliza Rentgenowska EDX i WDS
    • jakościowa analiza składu chemicznego
    • ilościowa analiza składu chemicznego
    • próg detekcji >0.3 % wag. dla pierwiastków ciężkich i ok. 2% dla lekkich
    • dokładność pomiaru ok. 3-5%
  • Analiza Orientacji Krystalograficznej
    • dyfrakcja elektronów wstecznie rozproszonych EBSD
    • dyfrakcja elektronów rozproszonych (t-EBSD, TKD, t-FSD) w SEM
    • dyfrakcja w zbieżnej wiązce w STEM, SAED w TEM.

Infrastruktura badawcza

Mikroskopy Transmisyjne

  • Hitachi STEM HD2700 z Cs korektorem, SE, BF-TEM, HAADF, EDX
  • Jeol JEM 1200 z kamerą Gatan Orius, uchwyt do grzania, uchwyt do rozciągania
  • Jeol JEM 3010 z kamerą Gatan Orius

Mikroskopy elektronowe skaningowe

  • Hitachi SEM S5500 - 2xSE, ExB, BSE, BF-STEM, DF-STEM, EDX
  • Hitachi SU70 - 2xSE, ExB, BSE, STEM, EDX, WDS, EBSD
  • Hitachi SU8000 - 3xSE, ExB, BSE, STEM, EDX
  • Hitachi SEM S3500N - SE, BSE, EDX
  • TableTop Hitachi SEM TM1000, TM3000, FEI Phenom

Mikroskopy jonowe

  • Hitachi FIB 2100
  • Hitachi DualBeam NB5000

Urządzenia do preparatyki próbek

  • Gatan PECS – system do napylania
  • Gatan Solarus – system do czyszczenia w plazmie
  • Linda Technoorg – Gentle Mill – niskoenergetyczne pocienianie jonowe
  • Hitachi IM4000 – przekroje poprzeczne pocieniane wiązką jonów

Kontakt

dr inż. Tomasz Płociński
 22 234 83 82
 tomasz.plocinski@pw.edu.pl

dr hab. inż. Elżbieta Jezierska
 22 234 83 79
 elzbieta.jezierska@pw.edu.pl