Przenośna mikroskopia świetlna i pomiary twardości
Przenośna mikroskopia świetlna wraz z pomiarami twardości pozwalają ocenić stan mikrostruktury materiału bezpośrednio na powierzchni badanego obiektu, bez konieczności wyłączania go z eksploatacji, w kontekście zgodności z wymaganiami lub oceny stopnia degradacji. Preparatyka mikrostruktury (szlifowanie, polerowanie i trawienie powierzchni) nie ma istotnego wpływu na obniżenie nośności kontrolowanego obiektu, ponieważ wielkość uszkodzenia powierzchni jest porównywalna z działaniem korozji.
Oferta badawcza
- Badania mikrostruktury za pomocą przenośnego mikroskopu świetlnego,
- Badania mikrostruktury techniką replik silikonowych,
-
Jakościowa i ilościowa analiza mikrostruktury.
Infrastruktura badawcza
- Przenośne mikroskopy Keyence VHX-600 i UHX-100K,
- Zestawy replik silikonowych,
-
Przenośne twardościomierze cyfrowe Krautkramer MIC 10, MIC 20 i MIC 20 TIV.
Kontakt
Kierownik Laboratorium Badań dla Przemysłu
dr inż. Łukasz Sarniak
lukasz.sarniak@pw.edu.pl
22 234 8742