Mikroskop sił atomowych Bruker MultiMode Nanoscope 8

Dane techniczne
  • tryby pracy:
    • Contact Mode – CM,
    • Lateral Force Microscopy – LFM,
    • Conductive AFM,
    • Scanning Tunneling Microscopy - STM,
    • Electrostatic Force Microscopy - EFM,
    • Magnetic Force Microscopy - MFM,
    • Tapping Mode - TM,
    • Scanning Capacitance Microscopy - SCM,
    • Phase Imaging PI,
    • Kelvin Probe Force Microscopy - KPFM,
    • Peak Force QNM (Quantitative Nanomechanical Mapping),
    • Peak Force Tapping
    • Force Modulation – FM,
    • Nanoindentation,
    • Torsional Resonance Mode – TRmode,
    • Force Volume,
    • Scan Asyst;
  • rozdzielczość natywna 5120x5120 punktów pomiarowych @ 100x100 nm;
  • możliwość podgrzewania próbki do 250 stopni C;
  • możliwość pracy w cieczach, gazach oraz powietrzu atmosferycznym;
  • maksymalny, bezpieczny obszar pojedynczego skanu 120x120 µm;
  • maksymalna wielkość pojedynczego skanu: 160x160 µm;
Wyposażenie
  • skaner 10 µm,
  • skaner 100 µm,
  •  skaner 160 µm,
  • skaner 160 µm z przystawką grzejną do 250 C,
  • głowice AFM i STM
  • kaptur neoprenowy niwelujący wpływ środowiska – drgania (przydatny przy skanach poniżej 10x10 nm),
  • pasywny, wiszący układ amortyzujący,
  • osłona antystatyczna,
  • osłona do stosowania atmosfery ochronnej,
  • kamera mikroskopu świetlnego wraz z oprogramowaniem umożliwiającym zapis obrazu.

Opracowane zostały elementy umożliwiające modyfikację sond za pomocą FIB. Modyfikacja (ostrzenie) pozwala na uzyskanie ponad 10x wyższej rozdzielczości oraz umożliwia obrazowanie kontrastu fazowego w wysokich częstotliwościach. Możliwe jest także uzyskanie dowolnego kształtu (np. walca, prostopadłościanu, itp.).

Opracowane zostały elementy układu umożliwiającego badanie materiałów w prostopadłym polu magnetycznym o regulowanym kierunku i natężeniu.
Osoba do kontaktu dr inż. Janusz Rębiś
Zakład Zakład Projektowania Materiałów
Lokalizacja na Wydziale ul. Wołoska 141, p. 016