Przenośna mikroskopia świetlna i pomiary twardości

Przenośna mikroskopia świetlna wraz z pomiarami twardości pozwalają ocenić stan mikrostruktury materiału bezpośrednio na powierzchni badanego obiektu, bez konieczności wyłączania go z eksploatacji, w kontekście zgodności z wymaganiami lub oceny stopnia degradacji. Preparatyka mikrostruktury (szlifowanie, polerowanie i trawienie powierzchni) nie ma istotnego wpływu na obniżenie nośności kontrolowanego obiektu, ponieważ wielkość uszkodzenia powierzchni jest porównywalna z działaniem korozji.

Oferta badawcza

  • Badania mikrostruktury za pomocą przenośnego mikroskopu świetlnego,
  • Badania mikrostruktury techniką replik silikonowych,
  • Jakościowa i ilościowa analiza mikrostruktury.
     

Infrastruktura badawcza

  • Przenośne mikroskopy Keyence VHX-600 i UHX-100K,
  • Zestawy replik silikonowych,
  • Przenośne twardościomierze cyfrowe Krautkramer MIC 10, MIC 20 i MIC 20 TIV.
     

Kontakt

Kierownik Laboratorium Badań dla Przemysłu
dr inż. Łukasz Sarniak
 lukasz.sarniak@pw.edu.pl
 22 234 8742

Powered by eZ Publish™ CMS Open Source Web Content Management. Copyright © 1999-2012 eZ Systems AS (except where otherwise noted). All rights reserved.