| Dane techniczne
|
Urządzenie nanotwardościomierz z możliwością przeprowadzania badań typu scratch-test
|
| Wyposażenie
|
- Głowica do wysokich obciążeń (High Load Head).
- Wgłębnik typu: Berkovich.
- Maksymalna głębokość odcisku 75µm.
- Zdolność rozdzielcza pomiaru głębokości 0,1nm.
- Maksymalna siła 7N.
- Zdolność rozdzielcza pomiaru siły ok. 200µN.
- Sterowanie: w trybie kontroli siły lub przemieszczenia.
- Parametry mierzone podczas badania: twardość H [GPa], zredukowany moduł Young’a E* [GPa].
- Głowica do niskich obciążeń (Low Load Head).
- Wgłębnik typu: Berkovich.
- Maksymalna głębokość odcisku 5µm.
- Dokładność pomiaru głębokości < 0,02nm.
- Maksymalna siła 10mN.
- Dokładność pomiaru siły ok. <1nN.
- Sterowanie: w trybie kontroli siły, przemieszczenia i sprzężenia zwrotnego.
- Parametry mierzone podczas badania: twardość H [GPa], zredukowany moduł Young’a E* [GPa].
- Scratch – SPM
- Rejestracja siły normalnej i poprzecznej w funkcji czasu i przemieszenia w osiach Z i X|Y
- Maksymalna siła normalna: 10mN
- Maksymalna siłą poprzeczna: 5 mN
- Maksymalna długość wytarcia: 15 mm
- Zakres skanowania SPM X-Y: 0 – 40 µm.
- Zakres przesunięcia w osi Z: 0 – 3 µm.
- Rozdzielczość SPM ~ 10% promienia zaokrąglenia wgłębnika.
|
| Osoba do kontaktu
|
dr inż. Maciej Spychalski, dr hab. inż. Krzysztof Rożniatowski, prof. PW
|
| Zakład
|
Zakład Projektowania Materiałów
|
| Laboratorium
|
Laboratorium Badań Struktury i Właściwości Powierzchni
|
| Lokalizacja na Wydziale
|
ul. Wołoska 141, p. 311/1
|